Método y aparato de medida para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos

Tipo: Patente
Titulares:
UNIVERSIDAD DE SEVILLA (100%)
Solicitud
20-10-2011
Concesión
15-04-2014
Familia
ES2404673R2; PCT/ES2012/000268
Método y aparato de medida (100, 400, 500) para la caracterización de dispositivos ópticos y fotónicos, basado en interferometría espectral y algoritmos de reconstrucción de fase mínima, que comprende una fuente de luz (101, 401, 501), un montaje intererométrico (100, 400, 500) y un sistema de detección óptica (106, 406, 506), y donde partiendo de la densidad espectral de potencia de una función interferométrica de fase mínima, compuesta por una señal óptica de referencia y una señal óptica que contiene la característica del dispositivo objeto de estudio DUT (103, 503), acaba obteniendo la función de transferencia del DUT (103, 503), H(?) y su correspondiente respuesta impulsiva h(t).
Materia: Física
CIP: G01N21/45 (2006.01)
CPC: G01M11/31 (EP); G01M11/331 (EP); G01D5/35316 (EP)