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Publicaciones en la fuente ELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS GROUP CONFERENCE 2011 (EMAG 2011)

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Ponencia2012(S)TEM analysis of the interdiffusion and barrier layer formation in Mn/Cu heterostructures on SiO2 for interconnect technologiesELECTRON MICROSCOPY AND ANALYSIS GROUP CONFERENCE 2011 (EMAG 2011)