Design considerations of an SRAM array for the statistical validation of time-dependent variability models

Saraza-Canflanca, P.; Malagón, D.; Passos, F.; Toro, A.; Núñez, J.; Díaz-Fortuny, J.; Castro-López, R.; Roca, E.; Martín-Martínez, J.; Rodrizucz, R.; Nafria, M.; Fernández, F. V.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2018
Número de artículo: 8434900
Páginas: 73 - 76
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus513-08-2022
wos313-08-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Saraza-Canflanca, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Malagón, D.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Passos, F.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Toro, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Núñez, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Díaz-Fortuny, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Castro-López, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
8Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
9Martín-Martínez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
10Rodrizucz, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
11Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
12Fernández, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)