A Model Parameter Extraction Methodology Including Time-Dependent Variability for Circuit Reliability Simulation

Diaz-Fortuny, J.; Saraza-Canflanca, P.; Toro-Frias, A.; Castro-Lopez, R.; Martin-Martinez, J.; Roca, E.; Rodriguez, R.; Fernandez, F. V.; Nafria, M.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2018
Número de artículo: 8434867
Páginas: 53 - 56
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus415-01-2022
wos015-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Diaz-Fortuny, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
2Saraza-Canflanca, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Toro-Frias, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Martin-Martinez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
7Rodriguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
9Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)