Automated Massive RTN Characterization Using a Transistor Array Chip

Saraza-Canflanca, P.; Diaz-Fortuny, J.; Toro-Frias, A.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Martin-Martinez, J.; Rodrigucz, R.; Nafria, M.; Fernandez, F. V.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2018
Número de artículo: 8434914
Páginas: 29 - 32
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus113-08-2022
wos113-08-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Saraza-Canflanca, P.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Diaz-Fortuny, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Toro-Frias, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Castro-Lopez, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Roca, E.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Martin-Martinez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Rodrigucz, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
9Fernandez, F. V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)