CMOS Characterization and Compact Modelling for Circuit Reliability Simulation

Diaz-Fortuny, Javier; Martin-Martinez, Javier; Rodriguez, Rosana; Nafria, Montserrat; Castro-Lopez, Rafael; Roca, Elisenda; Fernandez, Francisco V.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2018
Número de artículo: 8474244
Páginas: 139 - 142
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus306-08-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Diaz-Fortuny, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
2Martin-Martinez, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Rodriguez, RosanaUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
4Nafria, MontserratUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
5Castro-Lopez, RafaelUniversidad de Sevilla (Spain)
6Roca, ElisendaUniversidad de Sevilla (Spain)
7Fernandez, Francisco V.Universidad de Sevilla (Spain)