An IC Array for the Statistical Characterization of Time-Dependent Variability of Basic Circuit Blocks

Martin-Lloret, P.; Nuñez, J.; Roca, E.; Castro-Lopez, R.; Martin-Martinez, J.; Rodriguez, R.; Nafria, M.; Fernandez, F. V.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2019
Número de artículo: 8795277
Páginas: 241 - 244
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus122-01-2022
wos022-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Martin-Lloret, P.Universidad de Sevilla (Spain)
2Nuñez, J.Universidad de Sevilla (Spain)
3Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
4Castro-Lopez, R.Universidad de Sevilla (Spain)
5Martin-Martinez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Rodriguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Fernandez, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)