Overcoming the Effect of Test Fixtures on the Measurement of Parasitics of Capacitors and Inductors

Mendez, Joaquin Bernal; Freire, Manuel J.; Prats, Maria Angeles Martin

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2020
Volumen: 35
Número: 1
Número de artículo: 8765414
Páginas: 15 - 19
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus124-09-2022
wos224-09-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2020

Journal Impact Factor (JIF): 6.153

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE31/273Q1T1D2

Año: 2020

Journal Citation Indicator (JCI): 2,060

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC20/319Q1T1D193,89

Año:

2020

CiteScore:

14.500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering27/693Q1T1D1

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

2.159

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering29/655Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Mendez, Joaquin BernalUniversidad de Sevilla (Spain)
2Freire, Manuel J.Universidad de Sevilla (Spain)
3Prats, Maria Angeles MartinUniversidad de Sevilla (Spain)