A transistor array chip for the statistical characterization of process variability, RTN and BTI/CHC aging

Diaz-Fortuny, J ; Martin-Martinez, J; Rodriguez, R; Nafria, M; Castro-Lopez, R; Roca, E; Fernandez, FV; Barajas, E; Aragones, X; Mateo, D

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1215-01-2022
wos115-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
No existen datos para la revista de esta publicación.
Agencia Código de Proyecto
ERDFTEC2013-45638-C3-R; TEC2016-75151-C3-R
Generalitat de Catalunya2014SGR-384
Junta de AndaluciaP12-TIC-1481
Spanish MINECOTEC2013-45638-C3-R; TEC2016-75151-C3-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Diaz-Fortuny, J Autonomous University of Barcelona (Spain)
2Martin-Martinez, JAutonomous University of Barcelona (Spain)
3Rodriguez, RAutonomous University of Barcelona (Spain)
4Nafria, MAutonomous University of Barcelona (Spain)
5Castro-Lopez, RConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)
6Roca, EConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)
7Fernandez, FVConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)
8Barajas, EPolytechnic University of Catalonia (Spain)
9Aragones, XPolytechnic University of Catalonia (Spain)
10Mateo, DPolytechnic University of Catalonia (Spain)