TARS: A Toolbox for Statistical Reliability Modeling of CMOS Devices

Diaz-Fortuny, J ; Martin-Martinez, J; Rodriguez, R; Nafria, M; Castro-Lopez, R; Roca, E; Fernandez, FV

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1415-01-2022
wos015-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
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Agencia Código de Proyecto
ERDFTEC2013-45638-C3-R; TEC2016-75151-C3-R
Generalitat de Catalunya2014SGR-384
Junta de AndaluciaP12-TIC-1481
Spanish MINECOTEC2013-45638-C3-R; TEC2016-75151-C3-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Diaz-Fortuny, J Autonomous University of Barcelona (Spain)
2Martin-Martinez, JAutonomous University of Barcelona (Spain)
3Rodriguez, RAutonomous University of Barcelona (Spain)
4Nafria, MAutonomous University of Barcelona (Spain)
5Castro-Lopez, RConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)
6Roca, EConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)
7Fernandez, FVConsejo Superior de Investigaciones Cientificas (CSIC) (Spain)