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Fundamental parameters approach in the Rietveld method: a study of the stability of results versus the accuracy of the instrumental profile

Ortiz, AL; Cumbrera, FL; Sanchez-Bajo, F ; Guiberteau, F; Caruso, R

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 20
Número: 11
Páginas: 1845 - 1851
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2420-04-2024
wos2420-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2000

Journal Impact Factor (JIF): 0,952

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICSSCIE5/25Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,640

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICS1/29Q1T1D198,28

Año:

2011

CiteScore:

4,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry20/233Q1T1D1
Ceramics and Composites10/79Q1T1D2

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

0,979

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Ceramics and Composites10/78Q1T1D2
Materials Chemistry37/209Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Ortiz, ALUniversidad de Extremadura (Spain)
2Cumbrera, FLUniversidad de Extremadura (Spain)
3Sanchez-Bajo, F Universidad de Extremadura (Spain)
4Guiberteau, FUniversidad de Extremadura (Spain)
5Caruso, RUniversidad de Extremadura (Spain)