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Accuracy of X-ray diffraction SiC polytype-composition analyses performed by a polymorphic method

Sanchez-Bajo, F ; Ortiz, AL; Cumbrera, FL

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 20
Número: 4
Páginas: 297 - 299
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus120-04-2024
wos120-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2001

Journal Impact Factor (JIF): 0,489

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE102/170Q3T2D6

SJR año:

2001

Factor de Impacto:

0,451

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Science (miscellaneous)128/360Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Sanchez-Bajo, F Universidad de Extremadura (Spain)
2Ortiz, ALUniversidad de Extremadura (Spain)
3Cumbrera, FLUniversidad de Extremadura (Spain)