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Quantitative polytype-composition analyses of SiC using X-ray diffraction: a critical comparison between the polymorphic and the Rietveld methods

Ortiz, AL ; Sanchez-Bajo, F; Padture, NP; Cumbrera, FL; Guiberteau, F

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 21
Número: 9
Páginas: 1237 - 1248
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2820-04-2024
wos2320-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2001

Journal Impact Factor (JIF): 1,071

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICSSCIE3/24Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,640

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICS1/29Q1T1D198,28

Año:

2011

CiteScore:

4,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry20/233Q1T1D1
Ceramics and Composites10/79Q1T1D2

SJR año:

2001

Factor de Impacto:

1,236

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Ceramics and Composites10/79Q1T1D2
Materials Chemistry26/215Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Ortiz, AL Universidad de Extremadura (Spain)
2Sanchez-Bajo, FUniversidad de Extremadura (Spain)
3Padture, NPUniversity of Connecticut (United States)
4Cumbrera, FLUniversidad de Extremadura (Spain)
5Guiberteau, FUniversidad de Extremadura (Spain)