New method for the automated massive characterization of Bias Temperature Instability in CMOS transistors

Saraza-Canflanca, P; Diaz-Fortuny, J; Castro-Lopez, R; Roca, E; Martin-Martinez, J; Rodriguez, R; Nafria, M; Fernandez, FV 

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2019
Número de artículo: 8715029
Páginas: 150 - 155
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus406-08-2022
wos406-08-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
Agencia Código de Proyecto
ERDFTEC2016-75151-C3-R
MINECOBES-2017-080160
MINECO through the FPIBES-2014-067855
Spanish MINECOTEC2016-75151-C3-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Saraza-Canflanca, PCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Diaz-Fortuny, JUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Castro-Lopez, RCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Roca, ECSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Martin-Martinez, JUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Rodriguez, RUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Nafria, MUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Fernandez, FV CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)