Study of aluminophosphate oxynitride (AlPON) materials by X-ray photoelectron (XPS) and diffuse reflectance Fourier transform IR spectroscopy (DRIFTS)

Benitez, JJ ; Diaz, A; Laurent, Y; Odriozola, JA

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1998
Volumen: 8
Número: 3
Páginas: 687 - 691
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2223-10-2021
wos2723-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1998

Factor de Impacto (SCIE): 1.885

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCESCIE9/143Q1T1D1
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE28/92Q2T1D4

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.230

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Chemistry (miscellaneous)31/318Q1T1D1
Materials Chemistry24/206Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Benitez, JJ Universidad de Sevilla (Spain)
2Diaz, AUniversidad de Sevilla (Spain)
3Laurent, YURA 1496 CNRS (France)
4Odriozola, JAUniversidad de Sevilla (Spain)