Oxide scale depth profiling of lanthanum-deposited AISI-304: An ion beam analysis

Ager, FJ ; Respaldiza, MA; Paul, A; Odriozola, JA; da Silva, MF; Soares, JC

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1998
Volumen: 136
Páginas: 1045 - 1051
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1023-10-2021
wos923-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1998

Factor de Impacto (SCIE): 1.093

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE8/52Q1T1D2
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE5/32Q1T1D2
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE21/32Q3T2D7
PHYSICS, NUCLEARSCIE13/21Q3T2D7

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.679

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation20/66Q2T1D4
Nuclear and High Energy Physics23/48Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Ager, FJ Universidad de Sevilla (Spain)
2Respaldiza, MAUniversidad de Sevilla (Spain)
3Paul, AUniversidad de Sevilla (Spain)
4Odriozola, JAUniversidad de Sevilla (Spain)
5da Silva, MFInstituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)
6Soares, JCCentro de Física Nuclear da Universidade de Lisboa (Portugal)