Ion microprobe study of the scale formed during high temperature oxidation of high silicon EN-1.4301 stainless steel

Paul, A ; Elmrabet, S; Alves, LC; da Silva, MF; Soares, JC; Odriozola, JA

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 181
Número: 1-4
Páginas: 394 - 398
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2216-10-2021
wos2016-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2001

Factor de Impacto (SCIE): 1.041

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE5/33Q1T1D2
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE12/48Q1T1D3
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE20/30Q3T2D7
PHYSICS, NUCLEARSCIE15/22Q3T3D7

SJR año:

2001

Factor de Impacto:

0.569

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation24/67Q2T2D4
Nuclear and High Energy Physics26/47Q3T2D6
No existen datos para la revista de esta publicación.

¿En qué bases de datos está indexada la revista?
Ver información en MIAR

No existen datos para la publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Paul, A CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS); Instituto Tecnológico E Nuclear (Spain)
2Elmrabet, SCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Alves, LCInstituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)
4da Silva, MFInstituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)
5Soares, JCInstituto Tecnológico E Nuclear (Portugal)
6Odriozola, JACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)