TEM, EDX and EELS study of CNx and Si doped CNx thin films

Fernandez-Ramos, C ; Sayagues, MJ; Rojas, TC; Sidhoum, S; Odriozola, JA; Fernandez, A

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Número: 161
Páginas: 381 - 384
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
wos123-10-2021

Año (SCIE): 1999

Factor de Impacto (SCIE): 0.376

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICSSCIE50/65Q4T3D8
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# Autor
1Fernandez-Ramos, C 
2Sayagues, MJ
3Rojas, TC
4Sidhoum, S
5Odriozola, JA
6Fernandez, A