TEM, EDX and EELS study of CNx and Si doped CNx thin films

Fernandez-Ramos, C ; Sayagues, MJ; Rojas, TC; Sidhoum, S; Odriozola, JA; Fernandez, A

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Número: 161
Páginas: 381 - 384
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
wos106-02-2023

Año: 1999

Journal Impact Factor (JIF): 0,376

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICSSCIE50/65Q4T3D8
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor
1Fernandez-Ramos, C 
2Sayagues, MJ
3Rojas, TC
4Sidhoum, S
5Odriozola, JA
6Fernandez, A