Non-destructive depth compositional profiles by XPS peak-shape analysis

López-Santos, M. C.; Yubero, F. ; Espinós, J. P.; González-Elipe, A. R.

Tipo: Revisión
Año de Publicación: 2010
Volumen: 396
Número: 8
Páginas: 2757 - 2768
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1318-09-2021
wos1218-09-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2010

Factor de Impacto (SCIE): 3.841

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE9/73Q1T1D2
BIOCHEMICAL RESEARCH METHODSSCIE19/71Q2T1D3

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

1.364

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Analytical Chemistry17/94Q1T1D2
Biochemistry101/356Q2T1D3
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Agencia Código de Proyecto
Junta de AndaluciaTEP2275; P07-FQM-03298
Ministry of Science and Education of SpainMAT2007-65764; CSD2008-00023
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1López-Santos, M. C.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Yubero, F. CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Espinós, J. P.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4González-Elipe, A. R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)