Critical thickness and nanoporosity of TiO2 optical thin films

Borras, Ana ; Alvarez, Rafael; Sanchez-Valencia, Juan R.; Ferrer, Javier; Gonzalez-Elipe, Agustin R.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2012
Volumen: 160
Páginas: 1 - 9
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1304-12-2021
wos1304-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2012

Factor de Impacto (SCIE): 3.365

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, APPLIEDSCIE8/71Q1T1D2
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE39/241Q1T1D2
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE41/135Q2T1D4
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE23/69Q2T1D4

Año:

2012

CiteScore:

5.800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics28/387Q1T1D1
General Materials Science34/408Q1T1D1
Mechanics of Materials11/305Q1T1D1
General Chemistry40/359Q1T1D2

SJR año:

2012

Factor de Impacto:

1.496

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics40/400Q1T1D1
Mechanics of Materials23/321Q1T1D1
Chemistry (miscellaneous)47/417Q1T1D2
Materials Science (miscellaneous)53/502Q1T1D2
Nanoscience and Nanotechnology24/93Q1T1D3
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Agencia Código de Proyecto
Junta de AndaluciaP09-CTS- 5189; TEP5283; FQM-6900
Ministry of Science and InnovationCONSOLIDER CSD2008-00023; MAT2010-21228; MAT2010-18447
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Borras, Ana CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Alvarez, RafaelCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Sanchez-Valencia, Juan R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Ferrer, JavierCSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
5Gonzalez-Elipe, Agustin R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)