Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

A weak-to-strong inversion mismatch model for analog circuit design

Vicente-Sánchez, Gustavo; Velarde-Ramírez, Jesús; Serrano-Gotarredona, Teresa; Linares-Barranco, Bernabé 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2009
Volumen: 59
Número: 3
Páginas: 325 - 340
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus213-04-2024
wos113-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2009

Journal Impact Factor (JIF): 0,408

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE188/246Q4T3D8
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE40/49Q4T3D9

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,310

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE51/57Q4T3D911,40
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC226/306Q3T3D826,31

Año:

2011

CiteScore:

1,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films44/91Q2T2D5
Signal Processing44/67Q3T2D7
Hardware and Architecture95/134Q3T3D8

SJR año:

2009

Factor de Impacto:

0,253

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films57/109Q3T2D6
Hardware and Architecture77/118Q3T2D7
Signal Processing44/64Q3T3D7
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Vicente-Sánchez, GustavoCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Velarde-Ramírez, JesúsCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Serrano-Gotarredona, TeresaCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Linares-Barranco, Bernabé CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)