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Neutron Induced Single Event Upset Dependence on Bias Voltage for CMOS SRAM With BPSG

Vazquez-Luque, Aurelio ; Marin, Jesus; Terron, J. Antonio; Pombar, Miguel; Bedogni, Roberto; Sanchez-Doblado, Francisco; Gomez, Faustino

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2013
Volumen: 60
Número: 6
Número de artículo: 6651671
Páginas: 4692 - 4696
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1020-04-2024
wos920-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2013

Journal Impact Factor (JIF): 1,455

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE4/33Q1T1D2
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE100/248Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,860

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC107/306Q2T2D465,20
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY11/40Q2T1D373,75

Año:

2013

CiteScore:

2,900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Nuclear Energy and Engineering7/49Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering159/631Q2T1D3
Nuclear and High Energy Physics20/58Q2T2D4

SJR año:

2013

Factor de Impacto:

0,886

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering108/622Q1T1D2
Nuclear Energy and Engineering12/55Q1T1D3
Nuclear and High Energy Physics23/58Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Vazquez-Luque, Aurelio Sin datos ()
2Marin, JesusCentro de Investigaciones Energeticas, Medioambientales y Tecnologicas (Spain)
3Terron, J. AntonioHospital Universitario Virgen Macarena (Spain)
4Pombar, MiguelComplejo Hospitalario Universitario de Santiago (Spain)
5Bedogni, RobertoINFN, Laboratori Nazionali Di Frascati (Italy)
6Sanchez-Doblado, FranciscoUniversidad de Sevilla (Spain)
7Gomez, FaustinoSin datos ()