X-ray absorption-spectroscopy (xas) study of the semiconductor insulator interface in tio2-based photocatalysts

MUNOZPAEZ, A ; MALET, P

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1992
Volumen: 56-8
Número: PART 2
Páginas: 873 - 880
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus913-08-2022
wos913-08-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 0.873

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE5/13Q2T2D4
PHYSICS, APPLIEDSCIE31/62Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE28/45Q3T2D7
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE60/86Q3T3D7

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,030

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL34/156Q1T1D378,53
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS1/21Q1T1D197,62
PHYSICS, APPLIED29/165Q1T1D282,73
PHYSICS, CONDENSED MATTER14/74Q1T1D281,76

Año:

2011

CiteScore:

3.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films16/91Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.017

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films14/94Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1MUNOZPAEZ, A CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2MALET, PCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)