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Linearity test of high-speed high-performance ADCs using a self-testable on-chip generator

Gines, A. J. ; Peralias, E.; Leger, G.; Rueda, A.; Renaud, G.; Barragan, M. J.; Mir, S.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2016
Volumen: 2016-July
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus423-03-2024
wos023-03-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Gines, A. J. Universidad de Sevilla (Spain)
2Peralias, E.Universidad de Sevilla (Spain)
3Leger, G.Universidad de Sevilla (Spain)
4Rueda, A.Universidad de Sevilla (Spain)
5Renaud, G.CNRS Centre National de la Recherche Scientifique; Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (France)
6Barragan, M. J.CNRS Centre National de la Recherche Scientifique; Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (France)
7Mir, S.CNRS Centre National de la Recherche Scientifique; Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (France)