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Assessing AMS-RF Test Quality by Defect Simulation

Gil, Valentin Gutierrez; Gines Arteaga, Antonio J.; Leger, Gildas 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2019
Volumen: 19
Número: 1
Número de artículo: 8621016
Páginas: 55 - 63
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1423-03-2024
wos1123-03-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2019

Journal Impact Factor (JIF): 1,407

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE191/266Q3T3D8
PHYSICS, APPLIEDSCIE112/155Q3T3D8

Año: 2019

Journal Citation Indicator (JCI): 0,440

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC188/318Q3T2D641,04
PHYSICS, APPLIED94/170Q3T2D645,00

Año:

2019

CiteScore:

3,300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Safety, Risk, Reliability and Quality48/163Q2T1D3
Electrical and Electronic Engineering235/670Q2T2D4
Electronic, Optical and Magnetic Materials90/234Q2T2D4

SJR año:

2019

Factor de Impacto:

0,416

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering267/675Q2T2D4
Safety, Risk, Reliability and Quality74/169Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials112/221Q3T2D6
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Agencia Código de Proyecto
CNRS PICS Project IndieTESTPICS07703
Spanish Government Project (FEDER Program)TEC2015-68448-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Gil, Valentin GutierrezUniversidad de Sevilla (Spain)
2Gines Arteaga, Antonio J.Universidad de Sevilla (Spain)
3Leger, Gildas Universidad de Sevilla (Spain)