Weighted time lag plot defect parameter extraction and GPU-based BTI modeling for BTI variability

Van Santen, Victor M. ; Diaz-Fortuny, Javier; Amrouch, Hussam; Martin-Martinez, Javier; Rodriguez, Rosana; Castro-Lopez, Rafael; Roca, Elisenda; Fernandez, Francisco V.; Henkel, Jorg; Nafria, Montserrat

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2018
Volumen: 2018-March
Páginas: PCR.61 - PCR.66
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus522-01-2022
wos422-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
No existen datos para la revista de esta publicación.
Agencia Código de Proyecto
ERDF-
German Research Foundation (DFG)SPP1500
Junta de AndaluciaP12-TIC-1481
Spanish MINECOTEC2013-45638-C3-R; TEC2016-75151-C3-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Van Santen, Victor M. Karlsruhe Institute of Technology (Germany)
2Diaz-Fortuny, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Amrouch, HussamKarlsruhe Institute of Technology (Germany)
4Martin-Martinez, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
5Rodriguez, RosanaUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Castro-Lopez, RafaelUniversidad de Sevilla (Spain)
7Roca, ElisendaUniversidad de Sevilla (Spain)
8Fernandez, Francisco V.Universidad de Sevilla (Spain)
9Henkel, JorgKarlsruhe Institute of Technology (Germany)
10Nafria, MontserratUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)