A New Time Efficient Methodology for the Massive Characterization of RTN in CMOS Devices

Pedreira, G. ; Martin-Martinez, J.; Diaz-Fortuny, J.; Saraza-Canflanca, P.; Rodriguez, R.; Castro-Lopez, R.; Roca, E.; Fernandez, F. V.; Nafria, M.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2019
Volumen: 2019-March
Número de artículo: 8720582
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus315-01-2022
wos015-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
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Agencia Código de Proyecto
AEIBES- 2017-081462; BES-2014-067855; BES-2017-080160
ERDFTEC2016-75151-C3-R
Spanish AEI-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Pedreira, G. Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
2Martin-Martinez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Diaz-Fortuny, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
4Saraza-Canflanca, P.Universidad de Sevilla (Spain)
5Rodriguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Castro-Lopez, R.Universidad de Sevilla (Spain)
7Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
8Fernandez, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)
9Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)