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Equipment utilization tracking and improvement in semiconductor industry in probe and final test areas

Lizaranzu, Manuel J.Moreno; Rojo, Federico Cuesta

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2012
Volumen: 45
Número: 31
Páginas: 127 - 132
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus313-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Lizaranzu, Manuel J.MorenoFreescale Semiconductor (United States)
2Rojo, Federico CuestaUniversidad de Sevilla (Spain)