Optical and crystallisation behaviour of TiO2 and V/TiO2 thin films prepared by plasma and ion beam assisted methods

Gracia, F; Holgado, JP; Contreras, L; Girardeau, T; Gonzalez-Elipe, AR 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2003
Volumen: 429
Número: 1-2
Páginas: 84 - 90
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4215-01-2022
wos3715-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2003

Journal Impact Factor (JIF): 1.598

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE35/177Q1T1D2
PHYSICS, APPLIEDSCIE18/76Q1T1D3
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE15/57Q2T1D3

Año:

2011

CiteScore:

3.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry39/233Q1T1D2
Metals and Alloys13/126Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films14/91Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials41/183Q1T1D3
Surfaces and Interfaces11/49Q1T1D3

SJR año:

2003

Factor de Impacto:

1.259

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys11/162Q1T1D1
Electronic, Optical and Magnetic Materials26/148Q1T1D2
Materials Chemistry26/227Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films12/101Q1T1D2
Surfaces and Interfaces16/49Q2T1D4
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# Autor Afiliación
1Gracia, FCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Holgado, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Contreras, LCSIC-USE - Instituto de Investigaciones Quimicas (IIQ) (Spain)
4Girardeau, TUniversite de Poitiers (France)
5Gonzalez-Elipe, AR CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)