Año: 2014
Journal Impact Factor (JIF): 0,836
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 161/249 | Q3 | T2 | D7 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | 72/80 | Q4 | T3 | D9 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,370
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 214/306 | Q3 | T3 | D7 | 30,23 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 76/116 | Q3 | T2 | D7 | 34,91 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
IMB-CNM, CSIC | GICSERV2011-NGG-229 |
Institute de Nanociencia e Nanotecnologia (IN) Associated Laboratory | - |
Universitat de Valencia | VLC-CAMPUS 2013; UVINV-AE11-40892 |
# | Autor | Afiliación |
---|---|---|
1 | Cubells-Beltrán, M. Dolores | University of Valencia (Spain) |
2 | University of Valencia (Spain) | |
3 | De Marcellis, A. | Università degli Studi dell'Aquila (Italy) |
4 | Figueras, E. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Barcelona (IMB-CNM) (Spain) |
5 | Yúfera, A. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
6 | Zadov, B. | Ben-Gurion University of the Negev (Israel) |
7 | Paperno, E. | Ben-Gurion University of the Negev (Israel) |
8 | Cardoso, S. | Instituto Superior Técnico (Portugal) |
9 | Freitas, P. P. | Instituto de Engenharia de Sistemas e Computadores, Lisbon (Portugal) |