Contribution of the x-ray-absorption spectroscopy to study tio2 thin-films prepared by ion-beam-induced chemical-vapor-deposition

CABALLERO, A ; LEINEN, D; FERNANDEZ, A; JUSTO, A; ESPINOS, JP; GONZALEZELIPE, AR

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1995
Volumen: 77
Número: 2
Páginas: 591 - 597
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2424-09-2022
wos2424-09-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 1.630

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE7/62Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
PHYSICS, APPLIED65/165Q2T2D460,91

Año:

2011

CiteScore:

3.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Physics and Astronomy37/190Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.973

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)18/171Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1CABALLERO, A CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2LEINEN, DCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3FERNANDEZ, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4JUSTO, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5ESPINOS, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6GONZALEZELIPE, ARCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)