XAS and XRD structural studies of titanium-oxide thin-films prepared by ion-beam-induced cvd

LEINEN, D; FERNANDEZ, A; ESPINOS, JP; CABALLERO, A; JUSTO, A; GONZALEZELIPE, AR

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1994
Volumen: 241
Número: 1-2
Páginas: 175 - 178
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1316-10-2021
wos1416-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 1.034

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCESCIE32/111Q2T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE27/62Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE25/45Q3T2D6

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys14/148Q1T1D1
Materials Chemistry43/206Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films19/94Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials37/137Q2T1D3
Surfaces and Interfaces17/46Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1LEINEN, DCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2FERNANDEZ, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3ESPINOS, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4CABALLERO, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5JUSTO, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6GONZALEZELIPE, ARCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)