Structure and chemistry of SiOx (x < 2) systems

Barranco, A; Yubero, F; Espinos, JP; Holgado, JP; Caballero, A; Gonzalez-Elipe, AR ; Mejias, JA

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 67
Número: 3-4
Páginas: 491 - 499
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2209-10-2021
wos2109-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2002

Factor de Impacto (SCIE): 0.723

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE80/173Q2T2D5
PHYSICS, APPLIEDSCIE49/71Q3T3D7

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

0.494

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation31/72Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films42/98Q2T2D5
Condensed Matter Physics175/333Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Barranco, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Yubero, FCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Espinos, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Holgado, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5Caballero, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6Gonzalez-Elipe, AR CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
7Mejias, JAUniversidad Pablo de Olavide (Spain)