Calibration of the probing depth by total electron yield of EXAFS spectra in oxide overlayers (Ta2O5, TiO2, ZrO2)

Jimenez, VM; Caballero, A; Fernandez, A; SanchezLopez, JC; GonzalezElipe, AR; Trigo, JF; Sanz, JM

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1997
Volumen: 25
Número: 9
Páginas: 707 - 714
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1024-09-2022
wos724-09-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 1.243

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE41/86Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,220

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL136/156Q4T3D913,14

Año:

2011

CiteScore:

2.000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry71/233Q2T1D4
General Chemistry130/351Q2T2D4
Surfaces, Coatings and Films35/91Q2T2D4
Condensed Matter Physics168/383Q2T2D5
Surfaces and Interfaces23/49Q2T2D5

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Chemistry (miscellaneous)46/318Q1T1D2
Materials Chemistry36/206Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films16/94Q1T1D2
Condensed Matter Physics73/311Q1T1D3
Surfaces and Interfaces16/46Q2T2D4
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Jimenez, VMCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Caballero, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Fernandez, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4SanchezLopez, JCCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5GonzalezElipe, ARCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS); CSIC-JA-USE - Centro de Investigaciones Científicas Isla de la Cartuja (CICIC) (Spain)
6Trigo, JFUniversidad Autónoma de Madrid (Spain)
7Sanz, JMUniversidad Autónoma de Madrid (Spain)