The use of EXAFS spectroscopy to show the structural modifications in metals implanted with N+ ions

Fernandez, A; Caballero, A; Jimenez, V; Sanchez, JC; GonzalezElipe, AR; Alonso, F; Onate, JI

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1996
Volumen: 83
Número: 1-3
Páginas: 109 - 114
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus609-10-2021
wos409-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 0.892

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE4/13Q2T1D4

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.042

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Chemistry (miscellaneous)40/318Q1T1D2
Materials Chemistry33/206Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films13/94Q1T1D2
Condensed Matter Physics68/311Q1T1D3
Surfaces and Interfaces14/46Q2T1D4
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# Autor Afiliación
1Fernandez, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Caballero, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Jimenez, VCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Sanchez, JCCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5GonzalezElipe, ARCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6Alonso, FTECNALIA (Spain)
7Onate, JITECNALIA (Spain)