TEM, EELS and EFTEM characterization of nickel nanoparticles encapsulated in carbon

Rojas, TC ; Sayagues, MJ; Caballero, A; Koltypin, Y; Gedanken, A; Ponsonnet, L; Vacher, B; Martin, JM; Fernandez, A

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 10
Número: 3
Páginas: 715 - 721
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3316-10-2021
wos3316-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2000

Factor de Impacto (SCIE): 2.379

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE8/168Q1T1D1
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE21/91Q1T1D3

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

1.366

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry18/209Q1T1D1
Chemistry (miscellaneous)33/329Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Rojas, TC CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Sayagues, MJCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Caballero, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Koltypin, YBar-Ilan University (Israel)
5Gedanken, ABar-Ilan University (Israel)
6Ponsonnet, LLaboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (France)
7Vacher, BLaboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (France)
8Martin, JMLaboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (France)
9Fernandez, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)