Characterisation by X-ray absorption spectroscopy of oxide thin films prepared by ion beam-induced CVD

Holgado, JP; Caballero, A; Espinos, JP; Morales, J; Jimenez, VM; Justo, A; Gonzalez-Elipe, AR 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 377
Páginas: 460 - 466
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1224-09-2022
wos1224-09-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2000

Journal Impact Factor (JIF): 1.160

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE34/168Q1T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE23/70Q2T1D4
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE21/54Q2T2D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,520

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS8/21Q2T2D464,29
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY161/343Q2T2D553,21
PHYSICS, APPLIED78/165Q2T2D553,03
PHYSICS, CONDENSED MATTER34/74Q2T2D554,73

Año:

2011

CiteScore:

3.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Chemistry39/233Q1T1D2
Metals and Alloys13/126Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films14/91Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials41/183Q1T1D3
Surfaces and Interfaces11/49Q1T1D3

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

0.963

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys10/146Q1T1D1
Materials Chemistry41/209Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films17/92Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials33/144Q1T1D3
Surfaces and Interfaces16/47Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Holgado, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Caballero, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Espinos, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Morales, JCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5Jimenez, VMCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6Justo, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
7Gonzalez-Elipe, AR CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)