Characterisation by X-ray absorption spectroscopy of oxide thin films prepared by ion beam-induced CVD

Holgado, JP; Caballero, A; Espinos, JP; Morales, J; Jimenez, VM; Justo, A; Gonzalez-Elipe, AR 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 377
Páginas: 460 - 466
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1216-10-2021
wos1216-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2000

Factor de Impacto (SCIE): 1.160

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE34/168Q1T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE23/70Q2T1D4
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE21/54Q2T2D4

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

0.963

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys10/146Q1T1D1
Materials Chemistry41/209Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films17/92Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials33/144Q1T1D3
Surfaces and Interfaces16/47Q2T2D4
No existen datos para la revista de esta publicación.

¿En qué bases de datos está indexada la revista?
Ver información en MIAR

No existen datos para la publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Holgado, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Caballero, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Espinos, JPCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Morales, JCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5Jimenez, VMCSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6Justo, ACSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
7Gonzalez-Elipe, AR CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)