Systematic width-and-length dependent CMOS transistor mismatch characterization and simulation

Serrano Gotarredona, María Teresa; Linares Barranco, Bernabé

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Volumen: 21
Número: 3
Páginas: 271 - 296
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3627-11-2021
wos2927-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1999

Factor de Impacto (SCIE): 0.797

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURESCIE14/45Q2T1D4
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE66/205Q2T1D4

Año:

2011

CiteScore:

1.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films44/91Q2T2D5
Signal Processing44/67Q3T2D7
Hardware and Architecture95/134Q3T3D8

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.461

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Hardware and Architecture18/89Q1T1D3
Signal Processing18/37Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films44/94Q2T2D5
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación