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Calibration of offset via bulk for low-power HfO2 based 1T1R memristive crossbar read-out system

Mohan, C. ; Camuñas-Mesa, L. A.; Vianello, E.; Periniolla, L.; Reita, C.; de la Rosa, J. M.; Serrano-Gotarredona, T.; Linares-Barranco, B.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2018
Volumen: 198
Páginas: 35 - 47
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus520-04-2024
wos520-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2018

Journal Impact Factor (JIF): 1,654

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE88/148Q3T2D6
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE165/266Q3T2D7
OPTICSSCIE60/95Q3T2D7
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE72/94Q4T3D8

Año: 2018

Journal Citation Indicator (JCI): 0,530

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC167/312Q3T2D646,64
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY63/122Q3T2D648,77
OPTICS58/108Q3T2D646,76
PHYSICS, APPLIED77/169Q2T2D554,73

Año:

2018

CiteScore:

4,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Surfaces, Coatings and Films23/118Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering150/669Q1T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics51/176Q2T1D3
Condensed Matter Physics106/398Q2T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials62/227Q2T1D3

SJR año:

2018

Factor de Impacto:

0,561

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering174/654Q2T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials71/219Q2T1D4
Surfaces, Coatings and Films39/120Q2T1D4
Atomic and Molecular Physics, and Optics63/169Q2T2D4
Condensed Matter Physics161/403Q2T2D4
Nanoscience and Nanotechnology36/88Q2T2D5
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Agencia Código de Proyecto
EU H2020 grants644096 "ECOMODE"; 687299 "NeuRAM3"
European Regional Development Fund-
International Consortium of Nanotechnology of the Lloyd\'s Register FoundationG0086
Ministry of Economy and CompetitivenessTEC2013-45638-C3-3-R; TEC2015-63884-C2-1-P; TEC2016-75151-C3-3-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Mohan, C. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Camuñas-Mesa, L. A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Vianello, E.CEA LETI (France)
4Periniolla, L.CEA LETI (France)
5Reita, C.CEA LETI (France)
6de la Rosa, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
7Serrano-Gotarredona, T.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
8Linares-Barranco, B.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)