Compensation of PVT Variations in ToF Imagers with In-Pixel TDC

Vornicu, Ion ; Carmona-Galán, Ricardo; Rodríguez-Vázquez, Ángel

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2017
Volumen: 17
Número: 5
Número de artículo: 1072
Páginas: 1072 -
Acceso abierto: Vía dorada
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus522-01-2022
wos522-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2017

Journal Impact Factor (JIF): 2.475

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE16/61Q2T1D3
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE31/81Q2T2D4
ELECTROCHEMISTRYSCIE15/28Q3T2D6

Año:

2017

CiteScore:

4.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering131/666Q1T1D2
Instrumentation20/123Q1T1D2
Atomic and Molecular Physics, and Optics44/170Q2T1D3
Analytical Chemistry38/114Q2T1D4
Biochemistry186/415Q2T2D5

SJR año:

2017

Factor de Impacto:

0.584

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering158/626Q2T1D3
Instrumentation38/114Q2T1D4
Atomic and Molecular Physics, and Optics62/163Q2T2D4
Analytical Chemistry45/109Q2T2D5
Medicine (miscellaneous)1157/2765Q2T2D5
Biochemistry264/424Q3T2D7
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Agencia Código de Proyecto
Junta de Andalucia, Consejeria de Economia, Innovacion, Ciencia y Empleo (CEICE)P12-TIC 2338
Office of Naval Research (USA) ONRN000141410355
Spanish Ministry of Economy (MINECO)TEC2015-66878-C3-1-R
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Vornicu, Ion CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Carmona-Galán, RicardoCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Rodríguez-Vázquez, ÁngelCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)