Enhanced MoM Analysis of the Scattering by Periodic Strip Gratings in Multilayered Substrates

Florencio, Rafael ; Boix, Rafael R.; Encinar, José A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2013
Volumen: 61
Número: 10
Páginas: 5088 - 5099
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4322-01-2022
wos4122-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2013

Journal Impact Factor (JIF): 2.459

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE43/248Q1T1D2
TELECOMMUNICATIONSSCIE11/78Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,330

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC56/306Q1T1D281,86
TELECOMMUNICATIONS23/102Q1T1D377,94

Año:

2013

CiteScore:

5.600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics32/388Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering60/631Q1T1D1

SJR año:

2013

Factor de Impacto:

1.377

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics38/397Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering56/622Q1T1D1
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Agencia Código de Proyecto
Junta de AndaluciaP09-TIC-4595
Spanish Ministry of Science and InnovationCICYT TEC2010-17567; CICYT TEC2010-16948; CONSOLIDER CSD2008-00068; Consolider Ingenio 2010 CSD2008-00066
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Florencio, Rafael Universidad de Sevilla (Spain)
2Boix, Rafael R.Universidad de Sevilla (Spain)
3Encinar, José A.Universidad Politécnica de Madrid (Spain)