Finding representative patterns with ordered projections

Riquelme, JC; Aguilar-Ruiz, JS ; Toro, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2003
Volumen: 36
Número: 4
Número de artículo: PII S0031-3203(02)00119-X
Páginas: 1009 - 1018
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus6103-12-2022
wos5503-12-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2003

Journal Impact Factor (JIF): 1.611

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE37/205Q1T1D2
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCESCIE22/77Q2T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,540

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE22/170Q1T1D287,35
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC46/306Q1T1D285,13

Año:

2011

CiteScore:

7.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Artificial Intelligence10/141Q1T1D1
Computer Vision and Pattern Recognition5/55Q1T1D1
Signal Processing3/67Q1T1D1
Software18/357Q1T1D1

SJR año:

2003

Factor de Impacto:

0.847

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Software45/241Q1T1D2
Computer Vision and Pattern Recognition10/39Q1T1D3
Artificial Intelligence27/98Q2T1D3
Signal Processing14/40Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Riquelme, JCUniversidad de Sevilla (Spain)
2Aguilar-Ruiz, JS Universidad de Sevilla (Spain)
3Toro, MUniversidad de Sevilla (Spain)