Reliable analysis of settling errors in SC integrators: application to Sigma Delta modulators

del Rio, R ; Medeiro, F; Perez-Verdu, B; Rodriguez-Vazquez, A

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 36
Número: 6
Páginas: 503 - 504
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1422-01-2022
wos1222-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2000

Journal Impact Factor (JIF): 0.931

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE52/204Q2T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,480

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC177/306Q3T2D642,32

Año:

2011

CiteScore:

2.500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering162/589Q2T1D3

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

1.141

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering43/422Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1del Rio, R CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Medeiro, FCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Perez-Verdu, BCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Rodriguez-Vazquez, ACSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)