Año: 2002
Journal Impact Factor (JIF): 0,457
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
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ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 115/203 | Q3 | T2 | D6 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,370
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 214/306 | Q3 | T3 | D7 | 30,23 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 76/116 | Q3 | T2 | D7 | 34,91 |
# | Autor | Afiliación |
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1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) | |
2 | Perez-Verdu, B | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Medeiro, F | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
4 | del Rio, R | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
5 | Rodriguez-Vazquez, A | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |