Study of the short range order of FeCoSiAlGaPCB amorphous alloys by EXAFS spectroscopy

Traverse, A.; Borrego, J. M.; Conde, C. F.; Conde, A. ; Kumar, G.; Roth, S.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 290
Número: PART 2
Páginas: 1593 - 1596
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus024-09-2022
wos024-09-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2005

Journal Impact Factor (JIF): 0.985

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE80/178Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE32/60Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,730

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY107/343Q2T1D468,95
PHYSICS, CONDENSED MATTER20/74Q2T1D373,65

Año:

2011

CiteScore:

3.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics89/383Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials43/183Q1T1D3

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

0.699

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics145/367Q2T2D4
Electronic, Optical and Magnetic Materials59/156Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Traverse, A.Universite Paris-Saclay (France)
2Borrego, J. M.Universidad de Sevilla (Spain)
3Conde, C. F.Universidad de Sevilla (Spain)
4Conde, A. Universidad de Sevilla (Spain)
5Kumar, G.Leibniz-Inst. F. Fest-korper-/W. (Germany)
6Roth, S.Leibniz-Inst. F. Fest-korper-/W. (Germany)