The danger of high-frequency spurious effects on wide microstrip line

Mesa, F ; Jackson, DR

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 50
Número: 12
Páginas: 2679 - 2689
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2227-11-2021
wos2127-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2002

Factor de Impacto (SCIE): 1.511

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE33/203Q1T1D2

Año:

2011

CiteScore:

4.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

2.145

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics17/333Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering30/446Q1T1D1
Radiation1/31Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Mesa, F Universidad de Sevilla (Spain)
2Jackson, DRUniversity of Houston (United States)