A novel approach for calculating the characteristic impedance of printed-circuit lines

Mesa, Francisco ; Jackson, David R.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 15
Número: 4
Páginas: 283 - 285
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus820-11-2021
wos827-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2005

Factor de Impacto (SCIE): 1.474

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE43/208Q1T1D3

Año:

2011

CiteScore:

4.900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics38/383Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering54/589Q1T1D1

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

1.470

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering42/504Q1T1D1
Condensed Matter Physics40/367Q1T1D2
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# Autor Afiliación
1Mesa, Francisco Universidad de Sevilla (Spain)
2Jackson, David R.University of Houston (United States)