Static analysis of microstrip discontinuities using the excess charge-density in the spectral domain

MARTEL, J ; BOIX, RR; HORNO, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1991
Volumen: 39
Número: 9
Páginas: 1623 - 1631
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2212-06-2021
wos1512-06-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 1.024

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE31/193Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.678

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics26/311Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering18/418Q1T1D1
Radiation1/28Q1T1D1
No existen datos para la revista de esta publicación.

¿En qué bases de datos está indexada la revista?
Ver información en MIAR

No existen datos para la publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1MARTEL, J Universidad de Sevilla (Spain)
2BOIX, RRUniversidad de Sevilla (Spain)
3HORNO, MUniversidad de Sevilla (Spain)