Static characterization of offset asymmetric microstrip gap discontinuities

MARTEL, J ; BOIX, RR; HORNO, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1993
Volumen: 6
Número: 5
Páginas: 277 - 280
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus112-06-2021
wos212-06-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 0.393

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE90/193Q2T2D5
OPTICSSCIE30/45Q3T2D7

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.591

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering86/418Q1T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics49/111Q2T2D5
Condensed Matter Physics142/311Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials58/137Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1MARTEL, J Universidad de Sevilla (Spain)
2BOIX, RRUniversidad de Sevilla (Spain)
3HORNO, MUniversidad de Sevilla (Spain)