A new recurrence method for determining the green-function of planar structures with arbitrary anisotropic layers

MARQUES, R; HORNO, M; MEDINA, F

Tipo: Nota
Año de Publicación: 1985
Volumen: 33
Número: 5
Páginas: 424 - 428
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1003-12-2022
wos1103-12-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1997

Journal Impact Factor (JIF): 1.024

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE31/193Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,160

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC72/306Q1T1D376,63

Año:

2011

CiteScore:

4.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.678

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics26/311Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering18/418Q1T1D1
Radiation1/28Q1T1D1
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# Autor
1MARQUES, R
2HORNO, M
3MEDINA, F